Важливість дифракції для оптичних приладів
Однією з головних характеристик таких приладів, як телескоп або мікроскоп, є їх роздільна здатність. Під нею розуміють мінімальний кут, при спостереженні під яким ще помітні окремі об’єкти. Цей кут визначається з аналізу дифракції хвиль згідно з критерієм Релея за наступною формулою:
sin(θc) = 1,22*λ/D.
Де D – діаметр об’єктива приладу.
Якщо застосувати цей критерій до телескопа “Хаббл”, то отримаємо, що прилад на відстані 1000 світлових років здатний розрізняти два об’єкта, відстань між якими аналогічно такому між Сонцем і Ураном.
